Appunti di Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

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Appunti di Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Tecniche di caratterizzazione ed analisi dei materiali e delle superfici - esercizi e temi d'esame

Esame Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Facoltà Ingegneria dei processi industriali

Dal corso del Prof. M. Del Zoppo

Università Politecnico di Milano

Esercitazione

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Temi d'esame ed esercizi svolti da me. NB: molti testi non sono riportati ma sono stati forniti dalla professoressa Del Zoppo. Per ogni tema d'esame è sempre riportata la data e il numero dell'esercizio, comunque. Gli altri esercizi sono presi dalle slides del corso o fatti dalla prof alla lavagna: in quest'ultimo caso è riportato tutto ciò che è stato scritto. Foglio esercizi temi d'esame: i testi qui sono riportati invece. Temi d'esame svolti: 14 febbraio 2014; 30 aprile 2013; 26 settembre 2011; 26 febbraio 2014; 13 settembre 2013; 30 settembre 2013; 28 giugno 2011; 26 novembre 2013. In generale, anche se i temi d'esame sono vecchi e lei magari ha cambiato le modalità, le domande di teoria continuano ad essere utili anche per studiare!

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Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Esame Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Facoltà Ingegneria dei processi industriali

Dal corso del Prof. M. Del Zoppo

Università Politecnico di Milano

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Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell'apparato sperimentale. Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale. Argomenti trattati: Introduzione alle tecniche di caratterizzazione dei materiali Tecniche strutturali: diffrazione X per la determinazione di strutture cristalline 3D; estensione alle superfici: definizione di superfici ideali e reali, rilassamento, ricostruzione e diffrazione elettronica Microscopie: cenni di microscopia ottica; microscopia elettronica a scansione (SEM) e microanalisi X; microscopia elettronica a trasmissione (TEM). Caratterizzazione composizionale: spettroscopie elettroniche: XPS e spettroscopia Auger; spettroscopia vibrazionale infrarossa (assorbimento e riflessione ATR, RAIRS, DRIFT )e Raman

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Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici per Scienze matematiche fisiche e naturali

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