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Introduzione
I sistemi MEMS basati sull’ effetto della massa risonante
hanno:
alta sensibilità Adatto a rilevare micro o nano
piccole dimensioni particelle e a monitorare
micro-processi
fisici e biologici
Processi fisici cambiamenti
Misura della massa di massa
di: Evaporazione
Batteri e virus
Bacillus antracis Deposizione
Escherichia colI
• Crioconservazione
Funghi
• Altre applicazioni biologiche
Cellule di mammiferi 2
Introduzione
I sensori MEMS sono i candidati ideali per
lo
studio dell’evaporazione di fluidi e
microgocce
Applicazioni: Processo complesso:
• •
Semiconductor Pressione del gas
•
surface cleaning Entalpia di
• Ink-jet printing evaporazione
• •
Self-assembly Area della superficie
della micro- goccia
• Temperatura
dell’ambiente
• Concentrazione del gas
nell’aria 3
Aspetti Critici
La distribuzione di massa della micro goccia cambia
durante il processo di evaporazione.
E’ necessario avere una sensibilità
il più possibile costante sulla
superficie del sensore
La struttura a
cantilever
tradizionale
non è
ottimale! 4
Aspetti Critici
La dinamica dell’evaporazione può essere molto rapida
Il tasso di campionamento delle
misura della massa della goccia
deve essere sufficientemente alto 5
Sensor design
Mass Sensitivity and Design Strategy
Rapporto tra lo shift della
SENSIBILITA’ frequenza di risonanza e la
variazione di massa del sensore
In condizione di risonanza:
=
E E
kin _ total strain 1 1
ω ω
= + = + ∆
2 2 2 2 2
E E E m a m a U ( z )
∆ + ∆ + ∆ ∆
kin _ total kin _ sensor kin _ m 0 n n m n m n n m
2 2
1 ω
≈ 2 2
E m a
strain 0 n n
2
ω ω ω ω
ω −
∆ 2 2
U ( z )
= = ≈
+ ∆ + ∆ ∆ 2
n n m n m n m n U ( z )
∆
n m
ω ω
∆ ∆ +
m m m ( ) 2 m
+ ∆
0 n n m 0 6
Sensor design
Mass Sensitivity and Design Strategy
Variazione della sensibilità in funzione della coordinata nel piano
di attacco della massa
ω ω
∆ ∆ − ∆ ∆ −
2 2
( m ) ( m ) U U
∆ = =
max min max min
S ω
∆ ∆ 2
( m ) U
max max
Geometrie specifiche
analizzate con software di
L’andamento normalizzato analisi numerica (ANSYS)
del modo di vibrazione Un [ ]{ [ ]{
Governing equations:
} } { }
(z) deve essere il più + =
M u K u 0
costante possibile sul sito [ ] [ ] { }
ω
− =
2
di adesione della massa K M 0 7
Sensor design
Mass Sensitivity and Design Strategy
Prima soluzione
studiata
Piattaforma centrale
fissata al substrato con
4 micro-travi
Le micro-travi
trasferiscono la forza di
flessione direttamente
alla piattaforma
Massimo di deflessione
al centro della
piattaforma
Springs : Sensitività non uniforme sulla
4 μm larghezza piattaforma
∆S = 5 .
87 %
2 μm spessore 8
Sensor design
Mass Sensitivity and Design Strategy
Seconda soluzione
studiata
“Four-folded spring
structure”
Massimi di deflessione
distribuiti ai bordi della
struttura
L’angolo formato dalle
micro-travi converte la
forza di flessione in
momento di torsione
Sensitività uniforme al centro
della piattaforma
∆S = 3 .
11 % 9
Sensor design
Analisi parametrica delle dimesioni strutturali del sensore
Viene presa in
considerazione la
“Four-folded spring
structure”
Analisi numerica al
variare dei parametri L, d
e θ
L = lunghezza delle
micro-travi
d = distanza tra le
micro-travi e il
centro della piattaforma
θ = angolo delle 10
micro-travi
Sensor design
Analisi parametrica delle dimesioni strutturali del sensore
Variazione della sensibilità
in funzione di L e θ
(step-size = 30°/1μm)
Variazione della
sensibilità in
funzione di d e θ
(per L = 10 μm)
(step-size =
10°/4μm) Dimensioni strutturali ideali:
L = 10μm θ = 0° d = 4 μm 11
Sensor design
Analisi parametrica delle dimesioni strutturali del sensore
Dimensioni strutturali realizzate:
Difficoltà L = 10μm
tecnologic θ = 45°
he! d = 0 μm
Parametri del
sensore
∆S = 4.06%
fris = 182 kHz
k = 21.6 N/m 12
Processo di fabbricazione
Wafer di silicio di 2µm di spessore con l’aggiunta di 0,3µm di
materiale ossidato.
(A)
1) Applico 25µm di biossido di silicio come strato isolante elettrico
tra il silicio di partenza e i successivi strati
(B) 13
Processo di fabbricazione
2) I° processo di litografia:
• Photoresist S-1508 (AZ Electronic Materials Corp.)
• LOR-3A (Microchem Corp.) per la fase di liftof
3) I° Deposito: Cromo (10nm) e Oro (50nm) tramite evaporatore
electron beam,
Fase di liftof (C)
4) Lo strato di metallo (Cr + Au) insieme a un nuovo strato di
photoresist AZ-9260 (AZ Electronic Materials Corp.) è utilizzato
per definire l’area da attaccare (etching) per definire la struttura
14
del sensore (base e molle)
Processo di fabbricazione
5) Fase di etching ICP RIE per definire le molle e la base
(D)
6) III° Photolitografia con LOR-20B (Microchem Corp.) e AZ-9260 per
liftof.
II° Deposito strato di Cromo (100 nm) e Oro (900 nm) per le
piastrine di contatto con i cavi.
(E) 15
Processo di fabbricazione
7) IV° photolitrografia con AZ-9260 (F)
Fase di etching RIE (G)
(F) (G)
8) Il wafer viente tagliato in chip singoli prima delle prossime
lavorazioni 16
Processo di fabbricazione
9) Fase di etching con XeF2 per rilascio struttura e formazione di
buca sotto la piattaforma e le molle
(H)
10)Rimozione del photoresist con BHF etching
Pulizia della superficie con solventi
(I) 17
Processo di fabbricazione
11)Deposito di uno strato di biossido di silicio (100 nm) tramite
vapori chimici (PECVD)
(J) 18
Processi tecnologici 19
Packaging
Step 1: l’ossido PDMS sulle piazzole viene inciso per i collegamenti
(wire-bondings)
Step 2: ogni componente è collegato a una board PCB e collegato.
Step 3: uno strato di PDMS (6 mm) è posto sul componente e viene
isolato
Polidimetilsilossano PDMS : resistenza alla temperatura, agli attacchi chimici,
all'ossidazione, ottimo isolante elettrico e resistente all’invecchiamento; otticamente
20
pulito (trasparente), è biocompatibile, inerte, non è né tossico né infiammabile
Set-up sperimentale
Campioni
utilizzati:
Acqua (H20)
Dimetilsolfossi
do
((CH3)2SO) 21
Set-up sperimentale
Attuazione
elettromagnetica
Due magneti N52 generano
campo magnetico costante
(0.4 T)
Corrente di attuazione
sinusoidale passa
attraverso le molle e la
piattaforma
Forza di Lorentz indotta sul
∫
= ×
F I d l B
sensore nella direzione
verticale
l 22
Set-up sperimentale
Attuazione
elettromagnetica
Linearità dell’attuazione
elettromagnetica
confermata dall’analisi
della deflessione in regime
pseudo statico (10 kHz) 23
Set-up sperimentale
Misura della velocità del
sensore
Misura ottica realizzata
mediante un Velocimetro
Laser Doppler
MSV-300 Misura senza contatto, non
Polytech altera lo stato di vibrazione
del sensore v θ
∆ =
f 2 cos
D λ 24
Set-up sperimentale
Caratterizzazione della
risposta in frequenza del
sensore
Risposta in frequenza G(jω)
misurata in aria
Modellizzabile come un
risuonatore armonico del
secondo ordine
ω = 160 .
4 kHz
ris
=
Q 216 . 7
Ritardo LDV = ⋅
b 77
. 3
nN s / m
(~1.9 µs) ω 2
= =
k m 16
.
9 N / m
ris plat
=
( m 16 .
6 ng )
plat 25
Set-up sperimentale
Misura della frequenza di
oscillazione durante
l’evaporazione
Il sensore viene mantenuto
in vibrazione alla frequenza
di risonanza
La misura di frequenza
viene efettuata sul segnale
in uscita dall’amplificatore:
• Frequency counter per
DMSO
(34401A Agilent)
• Oscilloscopio digitale per
acqua 26
(DSO8064A Agilent)
Set-up sperimentale
Circuito di feedback per
l’auto-oscillazione
L’uscita dello stadio è un
Il circuito ha 2 funzioni: segnale di tensione a
dente di sega (±4V) la
• amplificazione del segnale cui frequenza è funzione
• shift della fase del segnale della massa della
per microgoccia
garantire l’auto-oscillazione
del sensore 27
Set-up sperimentale
Circuito di feedback per
l’auto-oscillazione
2° stadio
1° stadio 3° stadio
1° stadio: stadio non invertente a guadagno fissato
con filtro passa-alto
2° stadio: filtro passa-tutto per shift di fase
3° stadio: stadio non invertente a guadagno 28
Set-up sperimentale
Circuito di feedback per
l’auto-oscillazione
2°
1° stadio 3°
stadio stadio
La fase della risposta in
frequenza del circuito è
dettata dal 2° stadio
ω ω
∠ = −
H ( j ) 180 2 arctan( RC )
=
C 1
nF
= − Ω
R 1 11
k 29
Set-up sperimentale
Circuito di feedback per
l’auto-oscillazione
Per mantenere il sistema in
auto-oscillazione deve essere
verificato il criterio di
Barkhausen
ω ω
⋅ ≥
H ( j ) G ( j ) 1
[ ]
ω ω π
∠ ⋅ =
H ( j ) G ( j ) 2 n
fmin di funzionamento,
fissata fase e guadagno
dello stadio
k 1 1
= −
0
m (
t )
π 2 2 2
4 f (
t ) f
r 0 30
Risultati sperimentali
Misura della massa delle
microgocce durante
l’evaporazione
Le microgocce (20 -30
ng) vengono depositate
sul sensore con un
microiniettore
(IM300 Narishige Group)
• Uso di un
micromovimentatore
• Trattamento al plasma
di o