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Estratto del documento

I

correnti

delle due

medio

valore II IB loro

alla

Io media

più

differenza piccole rispetto

il R

sul

questi

If invertente resistere

morsetto

effetti

minimizzare non

aggiungendo RII

V _RIF R In

gg Rita _R

RII In

E

R

Rito 11 Io

Blatt R LIBIo

R

se v

Ri

III R

R alta

di ad

RATE linearità di

è

EW in

non frequenza

causa segnali

una presenza

di

elicità del

risposta tiro

è basso

passa

Ctz V

entra del

la del alla 4

sinusoidale

mando è pari

segnale segnale

un risposta segnale pendenza i

la la al

che fino

velocità detto

allora aumenta limite

aumenta

man mano pendenza al

tem

E II derivata

SR all'uscita

Vms

satura max

EW RATE e

definito rispetto

pendenza ma

dalla

frequenza

dipende

PENDENZA

T.it sunt

V V Se

wv.cat w

dà è la

V da

cui

possocalcolare

SR w

definisco una unum in s

minima

frequenza

Faticare frequenza

lo su

essendo tensione

DO

IO o

i

L TÈ

E III

Us

RIT 7

e

PACITA parametri

SVUOTAMENTO n

p

giunzione geometrici

la di

tensione

scutere capacitàvariano

come polarizzazione

dei ed

all'interno diodi

struttura transistor

è è

fondamentale semiconduttori

dispositivi o

p una

n come

unzione composta

lacune contat

di

di trovano

di stretto

materiale che

elettroni

e in

ricca si

semiconduttore ricca tipo n

tipo p

regioni tra

la di

nella

di che

di

totale si

forma

svuotamento

carica

svuotamento

capacità rappresenta capacità immagazzinare regione

da

Essa diversi fisici geometrici

e e

parametri

dipende

regioni di

di dalla

dalla di

dei

materiali

svuotamento

distanza semiconduttori

concentrazione tensione

e

dipende dragaggio applica

polarizzazione

la sulla

di di

atomi

nella nella

atomi

donatori Na Na

accettori

concentrazione ne influisce

p

drogaggio regione regione

di

d

di svuotamento

della stretta

svuotamento s capacità

a

larghezza più

dragaggio

regione

del di

e materiale carica

dielettrica

cost capacità immagazzinare

di la di

svuotamento della distanza

all'area svuotamento

If capacità

C diviso

proporzionale giunzione

la di

nella

di della svuota

della causando

di

svuotamento capacità

variazione

tensione larghezza

variazione modifica

polarizzazione regione

al d

al di

terminale

terminale s i

n n

tensione riduzione

tensione

arizzazione portatori

poiché

p can

DIRETTA applicata la

spinti verso giunzione

vengono al d

aumento

al di

terminale

terminale n s i

nizzazione inversa a

tensione tensione portatori

poiché

p can

applicata

allontanati dalla giunzione

vengono con

Breakdown n

come p

no I

giunzione applicazioni

la alla di

critico noto

tensione certo tensione

valore breakdown

quando

verifica inversa un

applicata come

supera

giunzione la

della

aumento danni

corrente

nesto porta che

e attraversa causando

un

fenomeno a significativo

improvviso giunzione

al tale

che situazione

reversibili sia

non

meno

a

dispositivo gestire

progettato per

dd di

di

il valore

nato si due

breakdown

detto fenomeni

p osservano ha

di tanto della alcuni

bandaproibita

distorte

attraversamento elettroni

che

bande si

Effetto cui

un

o

TUNNEL per

assottigliamento limitata

ad di

banda

andando concrete in

in

attraversare conduzione

riescono generando genere

la che ba

dall'altraparte

della

ritrovi

tipo si

probabilità

elettroni l'elettrone

in

barriera

perforano potenziale quantistica altri

dal

più gli

elevate urtando

tensioni esterno

elettronivengonocaricati i

campoelettrico legami

Breakdown e

a valanga a rompendo

che

elettroni catena

scatenando una corrente

a

reazione genera

di

V di

Dio

RADDRIZZATORE

un a di Tale

maxche valore

V diodo

tensione se

ci si

peak inverse ai

aspettavenga un

voltage applicata capi

la sul

di diodo di

che

evitare breakdown si

condizione ceffi

in sicurezza

si verifichi un

applica

generale

E PIU

1,5 di de

al

il è

il correlato

piu valore

singolasemionda

raddrizzatore negativo

a picco

per del

ai

di diodo

sinusoide direttamente

perché capi

applicata

ingresso

Vs

PIU Max

PIU il raddrizzatore semionda

a doppia

per avaro

catodo cui

motivo scelto

andra

per

V

Va Bu

Vs

Piu e

2 diodo tensione

e con

una e

un alta

molto

Bu

nel di

di

di diodi diodiattivi volta

i

due volta

essendo

caso ponti in

invece

la

il Plr

calcolare durante semionda

si positiva

può Ve

PIU Vs Va

Vos Vedi

da il di

del nel

cui Plr

diodi raddrizzatore

si un

avere come

vantaggio

evince ponte

lo anche

dellaVo raddrizzatore semionda

a come

singolasemionda e doppia

spettro

di caduta

tensione doppia

con una

al Ib Vos CAG

I Gli

9mV s

sms

È In

e E seg q

me he ftp

to Ink gm

Cate

Juve

1

Wars KIAN

Imre

Ihre e Yar fetente

Twist Intel i

we

we

atti

wt Liffey

ti metta

la loro alle alte

del basso

uno tipo

a influenza frequenze

questo piega

spettro passa

di

ECCHI CORRENTE nei

circuiti di

usato controllato

è corrente tensione

in

integrati un generatore

perché

in transistor

realizzato du

trale

E da bit di

transistor i

basi

due

diodo

costituito avanti

2 e

tipo

non a

una

connessione

la

Q è in stessa

inoltre

attiva

emettitori avendo Vae

zona

sempe la di

identici

transistor

due stessa emettitore

i hanno corrente

supposti

Mo

an

at Mme

Va

Va Ra

RB

the Re

Rea SI

la la di

tramite

modellizzazione body

dell'effetto definizione

avviene gag SUBS V

Vas cost

e

di

nel tiene

modello piccoli così

se conto

segnali ne

DIGITALE CMOS

VERTITORE TIRA

SPINGI

CIRCUITO ed

binaria ad entra

uscita 1

logica ottiene

se pari

una segnale a

un si

porta un

ingresso

0

pari e

segnale a viceversa

di di

Questo è che

realizzata

tipo caos consiste

porta attraverso un nell'accoppiare

l'impiego loro

Il dato dalla

drain

pros aventi in è

Nmos e

un

con

un gain comune vantaggio

la di

di scala realizzare molte

larga logiche

e

su

semplicità porte

possibilità

possibilità impiego

integrate in

Dettagli
A.A. 2023-2024
8 pagine
SSD Ingegneria industriale e dell'informazione ING-INF/01 Elettronica

I contenuti di questa pagina costituiscono rielaborazioni personali del Publisher denise.cacciola11 di informazioni apprese con la frequenza delle lezioni di Electronics e studio autonomo di eventuali libri di riferimento in preparazione dell'esame finale o della tesi. Non devono intendersi come materiale ufficiale dell'università Università degli Studi di Roma La Sapienza o del prof D'alessandro Antonio.