Paniere Analisi strumentale chiuse lezione da 15 a 30

Lezione 016

01. Per evidenziare la microstruttura di una lega al microscopio ottico

• si esegue un attacco chimico con nital
• si esegue un attacco chimico ma solo un lavaggio prima e dopo il taglio e la lucidatura
• si esegue un attacco elettrolitico
• si esegue un attacco chimico con picral

02. L'attacco metallografico può essere

• solo elettrolitico
• di tipo chimico ed elettrolitico
• nessuno dei casi precedenti
• di tipo chimico

03. Differenza tra montaggio a caldo e a freddo di un campione da analizzare al microscopio

• il montaggio a caldo prevede la presenza di una resina che catalizza ad alte temperature, mentre quello a freddo tramite incollaggio a temperatura ambiente
• il montaggio a caldo prevede la presenza di una polvere che sinterizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo in presenza di un elastomero a temperatura ambiente
• il montaggio a caldo prevede la presenza di una resina che catalizza ad alte temperature, mentre quello a freddo catalizza a temperatura ambiente
• il montaggio a caldo prevede la presenza di una polvere che sinterizzi ad alte temperature, mentre quello a freddo in presenza di una resina termoplastica

04. In M.O. il taglio EDM è praticato

• con un elettrodo laser che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido dielettrico.
• con un elettrodo che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido dielettrico.
• con un disco ricoperto in cui sono presenti particelle abrasive.
• con un elettrodo che invia una scarica elettrica al campione che è immerso in un fluido refrigerante.

Lezione 017

01. Per un'analisi SEM a 97°C e 0,015 mbar si impiega come sorgente

• a campo e a catodo caldo
• a monocristallo e esaboruro di lantanio
• a emissione di campo a catodo freddo
• a filamento di W

02. Le lenti elettromagnetiche presenti nel SEM

• rifocalizzano il fascio elettronico, servono a scansionare il campione
• convergono il fascio elettronico riducendo in un spot piccolo senza aberrazioni
• convergono il fascio elettronico riducendo in un spot piccolo, servono a scansionare il campione, riducendo il segnale
• convergono il fascio elettronico dimezzando i dati (100 micron

03. Bisogna effettuare un'analisi cristallografica in cui si richiede un ingrandimento di 150 KX si impiega un

• microscopio a scansione elettronica
• microscopio confocale
• microscopio a diffrazione elettronica
• microscopio a contrasto di interferenza differenziale

04. Nel SEM s'impregnante creare un vuoto elevato

• per evitare la dispersione del fascio e per generare più elettroni.
• per evitare dispersioni e per operare a condizioni di pressione di 1.33 mbar.
• per evitare collisioni di elettroni.
• per scansione a fascio elettronico.

05. Le lenti finali nel SEM

• permottono un campo magnetico lungo tutto la distanza che intercorre nei condensatori
• evitano distorsioni alle lenti condensatrici
• permettono la scansione continua del fascio elettrometro su una porzione d’area quadrata del campione
• permettono la scansione del fascio elettronico su una porzione d’area quadrata del campione nelle direzioni X e Y

06. Descrivere come si compone il SEM e quale sia l’interazione tra fascio e campione.

Lezione 018

01. Gli elettroni secondari diventano più numerosi

• L'energia del fascio incidente è alta e se aumentano gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico
• L'energia del fascio incidente è bassa e se diminuiscono gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico
• L'energia del fascio incidente è alta e se diminuiscono gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico
• L'energia del fascio incidente è bassa e se aumentano gli urti con gli elettroni retrodiffusi in funzione del numero atomico

02. Gli elettroni secondari penetrano in superficie fino a

• 50 micron
• 0,05 nm
• 5 nm
• 50nm

03. Di quali elettroni si tratta se hanno pochi eV di energia e danno informazioni sulla composizione del campione?

• elettroni retrodiffusi
• elettroni trasmessi
• elettroni secondari
• elettroni Auger

04. Gli elettroni backscatterd

• hanno intensità superiore agli elettroni secondari e danno informazioni sui materiali investigati in base al numero atomico
• hanno energia inferiore agli elettroni secondari e danno informazioni composizionali sui materiali investigati attraverso lo spessore
• hanno energia superiore agli elettroni secondari e danno informazioni sui materiali investigati in base al numero atomico
• hanno intensità inferiore agli elettroni Auger e danno informazioni sui materiali investigati

05. Analizzando il segnale nel SEM troviamo

• elettroni secondari, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo
• elettroni secondari, Auger, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo
• elettroni Auger, retrodiffusi, raggi X caratteristici e dello spettro continuo
• elettroni secondari, Auger, raggi X caratteristici e dello spettro continuo

06. Nel SEM se la dimensione del fascio è piccola

• Si ha minore risoluzione e profondità di campo, ma l'immagine riesce di effetti di rumore del segnale e risulterà granata
• Si ha minore risoluzione e profondità di campo e l'immagine è definita
• Si ha maggiore risoluzione e profondità di campo e l'immagine è definita
• Si ha maggiore risoluzione e profondità di campo, ma l'immagine riesce di effetti di rumore del segnale e risulterà sgranata

Lezione 022

01. Gli elettroni secondari danno la massima risoluzione

• perché dipendono dal diametro del fascio incidente, dalla profondità di campo e dalla lunghezza d'onda della radiazione incidente
• perché sono funzione dell'energia del fascio incidente e dalla profondità di campo
• perché sono più numerosi negli elettroni retrodiffusi e si diffondono più in profondità
• perché sono collimati dai rilevatori Everhart-Thornley

02. Gli elettroni backscattered

• hanno un'energia poco inferiore all'energia incidente e danno informazioni sulla composizione media del campione (Z compositional contrast)
• hanno un'energia funzione dell'elasticità del materiale e danno informazioni sulla composizione del campione (Z compositional contrast)
• hanno un'energia superiore all'energia incidente e danno informazioni sulla composizione media del campione
• hanno un'energia funzione del diametro del fascio incidente e danno informazioni sulla composizione del campione (Z compositional contrast)

03. Le interazioni anelastiche sono regolate dall'equazione di Bathe

• dE/dx = S: c'è il percorso di diffusione dell'elettrone primario è inversamente proporzionale al numero atomico
• dE/da = S: c'è il percorso di diffusione dell'elettrone primario è direttamente proporzionale al numero atomico
• dS/da = E: c'è il percorso di diffusione dell'elettrone primario è direttamente proporzionale al numero atomico
• dS/dx = E: c'è il percorso di diffusione dell'elettrone primario è inversamente proporzionale al numero atomico

04. Le interazioni elastiche tra elettrone e materia

• crescono al crescere del numero atomico dando elettroni secondari
• crescono al diminuire del numero atomico dando elettroni retrodiffusi. invece al crescere del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più
• crescono al crescere del numero atomico dando elettroni retrodiffusi; invece al diminuire del numero atomico gli elettroni deviano dal loro percorso diffondendosi di più in profondità nel campione

05. Il fascio elettronico che colpisce la superficie del campione da luogo a interazioni che possono essere di tipo elastico ed anelastico. Da cosa si differenziano?