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Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici Appunti scolastici Premium

Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell'apparato sperimentale. Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale.... Vedi di più

Esame di Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici docente Prof. M. Del Zoppo

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75

La composizione ottenuta con un’analisi di fluorescenza

X (analisi raggi X e non solo XPS) è mediata su un volume

bulk

micrometrico (materiale nel suo insieme) mentre, dif-

ferenza fondamentale, la spettroscopia Auger è limitata

ad un cubo con lato di alcuni nanometri poiché la sonda

è molto focalizzata.

Le analisi spettroscopiche sono tutte tecniche simili, ma, co-

noscendo gli agenti coinvolti sia come fascio incidente che

uscente, sono inseribili all’interno di diverse categorie in

base alla superiore efficienza in determinate condizioni

(campo di applicazione specifico). Per distinguere tra due

livelli con medesima energia, ma appartenenti ad elementi

differenti, si impiegano più energie cinetiche per attribuire

i diversi picchi al proprio elemento e salto orbitale. A soste-

gno di ciò si riportano le energie degli elettroni Auger per

elementi con in figura 83.

3 ≤


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DESCRIZIONE APPUNTO

Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell'apparato sperimentale. Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale. Argomenti trattati: Introduzione alle tecniche di caratterizzazione dei materiali Tecniche strutturali: diffrazione X per la determinazione di strutture cristalline 3D; estensione alle superfici: definizione di superfici ideali e reali, rilassamento, ricostruzione e diffrazione elettronica Microscopie: cenni di microscopia ottica; microscopia elettronica a scansione (SEM) e microanalisi X; microscopia elettronica a trasmissione (TEM). Caratterizzazione composizionale: spettroscopie elettroniche: XPS e spettroscopia Auger; spettroscopia vibrazionale infrarossa (assorbimento e riflessione ATR, RAIRS, DRIFT )e Raman


DETTAGLI
Corso di laurea: Corso di laurea in ingegneria dei materiali e delle nanotecnologie
SSD:

I contenuti di questa pagina costituiscono rielaborazioni personali del Publisher Toohips di informazioni apprese con la frequenza delle lezioni di Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici e studio autonomo di eventuali libri di riferimento in preparazione dell'esame finale o della tesi. Non devono intendersi come materiale ufficiale dell'università Politecnico di Milano - Polimi o del prof Del Zoppo Mirella Elvira Angela.

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