Download di Appunti per l'esame di Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

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Appunti di Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Esame Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici

Facoltà Ingegneria dei processi industriali

Dal corso del Prof. M. Del Zoppo

Università Politecnico di Milano

Appunto

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Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell'apparato sperimentale. Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale. Argomenti trattati: Introduzione alle tecniche di caratterizzazione dei materiali Tecniche strutturali: diffrazione X per la determinazione di strutture cristalline 3D; estensione alle superfici: definizione di superfici ideali e reali, rilassamento, ricostruzione e diffrazione elettronica Microscopie: cenni di microscopia ottica; microscopia elettronica a scansione (SEM) e microanalisi X; microscopia elettronica a trasmissione (TEM). Caratterizzazione composizionale: spettroscopie elettroniche: XPS e spettroscopia Auger; spettroscopia vibrazionale infrarossa (assorbimento e riflessione ATR, RAIRS, DRIFT )e Raman

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Caratterizzazione e analisi dei materiali delle superfici per Scienze matematiche fisiche e naturali

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