Appunti completi per l'esame di Metodologie metallografiche

RISULTATO PRONTA PER ATTACCO CHIMICO TEORICA QUALSIASI INGRANDIMENTO E' FATTIBILE COMPATTO

STRUMENTALE MICROSCOPIO SEMPLICE CONCEZIONE

LIMITE INGRANDIMENTO MO PRATICA 2 FATTORI LIMITANTI VISIBILE 400-700nm

FISICO LUNGHEZZA D'ONDA DISTINGUIBILE 200nm

Rmin = 0,61 (lamda/nSINalfa) LENTI

LUCE PASSA ATTRAVERSO APERTURE APERTURE STESSE

FORMANO CONI

LIMITE DIFFRAZIONE FASCI PARALLELI ATTRAVERSO APERTURE STRETTE NON PUNTI

NATURA ODULATORIA DELLA LUCE CERCHI DI AIRY

RISOLUZIONE

FASCIO DI ELETTRONI

PARAMETRI CRITICI DERIVA DALLA TEORIA DELLA DIFFRAZIONE

CRITERIO DI RAYLEIGH RIDUCO LAMDA

MIGLIORE RISOLUZIONE MINORE r1 n

AUMENTO ALFA

DIPENDE DALLA TENSIONE DI ACCELERAZIONE

VOLUME DI INTERAZIONE

DIPENDE DALLA TENSIONE DI ACCELERAZIONE DEL FASCIO LUNGHEZZA D'ONDA 400-700 nm

PRESSIONE DI LAVORO 10^5 Pa

LUCE LENTE FOCALE FISSA

LENTI INDIRIZZO IL FASCIO MUOVENDO MECCANICAMENTE I COMPONENTI DEL

METOD. METAL. 5 MICROSCOPIO

ITERAZIONE PROFONDITA' DI CAMPO LIIMITATA

ELETTRONE-MATERIA

ELASTICA

ELETTRONI RETRODIFFUSI BSE LUCE VS ELETTRONI LUNGHEZZA D'ONDA 0.001-0.01 nm

ELETTRONI SENSIBILI FENOMENI DI SCATTERING

PRESSIONE DI LAVORO 10^-2 Pa

RADIAZIONE X CARATTERISTICA IN UN M.E. CAMPI MAGNETICI

CATODOLUMINESCENZA CAMPI ELETTROMAGNETICI

ANAELASTICA ELETTRONI LENTI

RADIAZIONE X CONTINUA FOCALE VARIABILE

ELETTRONI SECONDARI SE INDIRIZZARE IL FASCIO

POSSO ELETTRONICAMENTE

INSIEME DELLE DISTANZE PERCORSE DEGLI ELETTRONI PER RAGGIUNGERE FARE UNA SCANSIONE

R

L'EQUILIBRIO TERMICO CON IL CAMPIONE ELEVATA

PROFONDITA' DI CAMPO

INTERAZIONE ELETTRONE - MATERIA

INTERAZIONE SPAZIALE DEGLI ELETTRONI E' DATA DALL'ALLARGAMENTO

LATERALE DEL FASCIO NEL SOLIDO MO VS SEM

COLONNA SENZA CROSSOVER

SINCRONO CON QUELLO SUL MONITOR MOVIMENTO FASCIO SUL CAMPIONE BOBINE DI SCANSIONE

AVVIENE APPLICANDO CORRENTE AD OGNUNA DELLE BOBINE SCANSIONE

POSTE SOPRA LA LENTE OBIETTIVO

DEFINIZIONE

QUALISASI DISPOSITIVO IN GRADO DI METTERE A FUOCO UNA RADIAIZONE SEM

CAMPO MAGNETICO VARIO VARIO LA CORRENTE

FOCALE DELLA LENTE DENSITA' DI CORRENTE EPR UNITA' DI ANGOLO SOLIDO

COONVERGE IN UN PUNTO BRILLANZA

SUBISCE LA COMPONENTE IN DIREZIONE RADIALE MODIFICATA LA TRAIETTORIA QUANTI e/secondo POSSONO ESSERE INDIRIZZATI IN UN AREA DEL CAMPIONE

SEGUE RAGGI SEMPRE PIU PICCOLI SEQUENZA FASCIO PRODOTTO 10-50 micron

MODIFICA LA TRAIETTORIA IN ELICOIDALE BradEV AGISCE LA FORZA DIMENSIONI FASCIO SUL CAMPIONE QUALCHE MICRON

CARATTERISTICHE

INIZIALMENTE NON HA COMPONENTE ASSIALE WORKING FUNCTION ENERGIA NECESSARIA PER L'ESTRAZIONE DEGLI ELETTRONI

PERPENDICOLARE AL MOTO E AL CAMPO MAGNETICO DIREZIONE FORZA ELETTRONE SI MUOVE IN UN CAMPO MAGNETICO LENTI ELETTROMAGNETICHE TEMPO DI VITA

METOD. METAL.

SUBISCE LA FORZA DI LORENTZ VUOTO

6 COLONNA SEM ELETTRONI EMESSI PER EFFETTO TERMOIONICO

SORGENTE CATODO A CALDO FILAMENTO -20 KV

ACCELERATI DALL'ELEVATO POTENZIALE NEGATIVO DA FILAMENTO A TERRA TERRA 0V

FORNITA PER VIA TERMICA

ENERGIA PARI ALLA FUNZIONE DI LAVORO (ESTRARRE UN ELETTRONE)

SORGENTI DI ELETTRONI EFFETTO JOULE

EMISSIONE TERMOIONICA ANALISI MATERIALI

TIPOLOGIE

ALTO VUOTO TURBOMOLECOLARI

BASSO VUOTO ROTATIVE POMPE

CREANO ZONE DI DIVERSA PRESSINE

RACCOLTA ELETTTRONI EMESSI DAL CAMPIONE NECESSARIO PER SISTEMA PER OTTENERE IL VUOTO

GENERAZIONE E MOVIMENTO ELETTRONI ABBASSARE POTENZIALE DI CAMPO ELETTRICO

SCHEMA SEM

CAMPIONE DA OSSERVARE SORGENTE CONSENTIRE EMISSIONE DI ELETTRONI EFFETTO TUNNELING ELEVATA DENSITA' DI CORRENTE

RACCOLTA SEGNALE EFORMATTAZIONE IMMAGINE

LENTI DI SCANSIONE LENTI ELETTRONICHE E DIAFRAMMI

CONTROLLANO ELETTRONE

INTERAGISCE CON IL CAMPIONE CANNONE ELETTRONICO EMISSIONE DI CAMPO

GENERA FASCIO DI ELETTRONI ANALISI MATERIALI

E IL PIANO NEL QUALE GLI ELETTRONI SONO FOCALIZZATI DISTANZA TRA

LENTE POLARE DELLA LENTE OBIETTIVO DISTANZA DI LAVORO ELETTRONI

COLLISIONI ELASTICHE TRA ATOMI MATERIALE

CAMBIAMENTO TRAIETTORIA ELETTRONI

ATOMI PIU GRANDI MOLTO PIU DISPERSORI SEGNALE PIU ALTO

RISULTATO COEFFICIENTE DI RETRODIFFUSIONE

BSE ELETTRONI RETRODIFFUSI

DIAMETRO DEL FASCIO INCIDENTE SUL CAMPIONE DETECTOR ANULARE AL DI SOTTO DELLA LENTE OBIETTIVO

SSD SOLID STATE DETECTOR NON INTERFERISCE CON IL FASCIO PRIMARIO

DIAFRAMMA FINALE RILEVTAORI DI ELETTRONI RETRODIFFUSI EsB NELLA COLONNA

EsB ENERGY SELECTIVE/AsB AGLE SELECTIVE DETECTORS

METOD. METAL 7 AsB SOTTO LA LENTE OBIETTIVO

DETECTOR SPETTRO DI ENERGIA ELETTRONI

SEM- SEGNALI E DEBOLMENTE LEGATI

RIVELATORI ELETTRONI DEI GUSCI ESTERNI DEGLI ATOMI ESPULSI CON ENERGIA

MESSI IN MOVIMENTO

RISULTATO INCONTRANO LA SUPERFICIE DEL CAMPIONE E VENGONO EMESSI DA

SI PROPAGANO NEL SOLIDO QUESTA

TENSIONE DI ACCELERAZIONE ATTTRAE ELETTORNI

SE ELETTRONI SECONDARI GRIGLIA POLARIZZATA POSITIVAMENTE

POLARIZZATA NEGATIVAMENTE

ELEVATO POTENZIALE 10KV

ETD EVERHART-THORNLEY DETECTOR SCINTILLATORE ACCELERA GLI ELETTRONI

PROVOCANO L'EMISSIONE DI LUCE

FOTOMOLTIPLICATORE AMPLIFICATORE

RILEVATORI DI ELETTRONI SECONDARI

LUNGO DUE DIREZIONI PERPENDICOLARI

CON BOBINE DI DEFLESSIONE REALIZZATA TRAMITE

DEFLESSIONE SONDA CAMPIONE MOLTO VVICINO ALLA LENTE ELETTROMAGNETICA

ELETTRONI CHE FUORIESCONO DAL CAMPIONE VENGONO ATTRATTI DAL

TTL THROUGH THE LENS CAMPO MAGNETICO

SPIRALEGGIANO E ARRIVANO AL DETECTOR TTL

GENERAZIONE IMMAGINE

INFRAGILENTI FLUIDI

CORROSIVI CONDIZIONI AMBIENTALI

GAS COLLEGATI AD UN SUPPORTO STUB

TEMPERATURA STUB

CAMPIONI

VARIABILI INFLUENTI SPAZIATURE STRIATURE

MICROSTRUTTURA CAMPIONE

NECESSARIO COLLEGAMENTO ELETTRICO CONTINUO TRA

RESISTENZA MATERIALE PER NON FAR ACCUMULARE LA CARICA

CONDIZIONI DI CARICO COLLE CONDUTTIVE

REALIZZATO CON ADESIVI CONDUTTIVI

PERDONO L'ENERGIA

ELETTRONI NTERAGISCONO CON IL CAMPIONE VENGNO ASSORBITI DAL CAMPIONE

A FATICA

MA AL SEM VEDO LO SPIAGGIAMENTO CEDIMENTO SEMBRA FRAGILE 1 CAMPIONE CONDUTTIVO ELETTRONI SI DISPERDONO

COME DISTINGUERLO

LIVELLI DI OSSIDO NEL TEMPO ELETTRONI SI FERMANO NELLA ZONA DI INTERAZIONE

SPIAGGIAMENTO CICLI DI SOLLECITAZIOINE GENERANO

(STRIATURE) 2 CAMPIONE NON CONDUTTIVO AGISCE COME UNA TRAPPOLA

ACCUMULO DI CARICA

NON SOSTIENE PIU' IL CARICO PARTE RESISTENTE SI RIDUCE SI ACCUMULANO SULLA SUPERFICIE DEL CAMPIONE DEFINITO COME CHARGING

Sub-Argomento FRATTURA DI SCHIANTO PER SOVRACCARICO

PER PROPAGAZIONE CRICCA CREA AREE BIANCHE SUL CAMPIONE

CRICCA SI ESTENDE FINO ALLA SEIZONE RESISTENTE PER LA FORZA REPULSIVA DELL'ACCUMULO DI CARICA

PROPAGAZIONE CRICCA

PER AZIONE DELLA COMPONENTE DI TRAZIONE 3 FASI DEFLESSIONE SONDA ELETTRONICA DISTORSIONE IMMAGINE

SFORZO OSCILLANTE CON SCANSIONE LENTA SCARICA LOCALE SONDA SI FLETTE E DEFLETTE

CAUSA

SFORZO CICLIICO NUCLEAZIONEDELLA CRICCA DI FATICA

ZONE SUB SUPERFICIALI DOVE

SUPERFICIE FRATTURA TRANSGRANULARE

PROPAGAZIONE ATTRAVERSO I GRANI RICOPRIMENTO DEL CAMPIONE NON CONDUTTIVO CON STRATO DI MATERIALE CONDUTTIVO

IMMESSO ARGENTO

1 METALLIZZAZIONE PRODOTTI CON SCARICA

IONI POSITIVI DEL METALLO TARGET SI DEPOSITANO SUL CAMPIONE

CAMERA A BASSO VUOTO

TIPOLOGIE FORMA UN PLASMA GASSOSO

IONI DI AR COLPISCONO IL TARGET

ALTA TENSIONE TRA TARGET E CAMPIONE ESTRAE ATOMI VENGONO DIFFUSI DAGLI IONI

DECOESIONE CONSENTONO LA DISPOSIZIONE OMOGENEA SULLA SUPERFICIE DEL

CAMPIONE

FRATTURA INTERGANULARE

LUNGO I BORDI DI GRANO 2 BASSA TENSIONE DI ACCELERAZIONE RIDUIZONE ELETTRONI INTERAGENTI CON IL CAMPIONE

NEI BORDI DRI GRANO APPLICAZIONE CARICO QUANDO ACCUMULO DI CARICA-SOLUZIONI

METOD. METAL. 8

ROTTURE PREPARAZIONE CAMPIONI

ZIG ZAG UTILIZZO RESINE CONDUTTIVE PER CAMPIONI DA INGLOBARE

SEM E FRATTOGRAFIA

MORFOLOGIA A PIUMA PER DISCHI NON OMOGENEI UTILIZZO COLLA PER MIGLIOR CONTATTO

COME SI PRESENTA 3 MONTAGGIO APPROPRIATO

MORFOLOGIA A FIUME COLLA

COLLEGAMENTI CONDUTTIVI

GRADINI DI CLIVAGGIO NASTRI ADESIVI

4 AUMENTO VELOCITA' SCANSIONE VALIDA PER CAMPIONI NON CONDUTTIVI NON DISTURBATA DAL CAMBIAMENTO LOCALE DEL POTENZIALE

5 USO ELETTRONI RETRODIFFUSI BSE EMISSIONE ELETTRONI RETRODIFFUSI PER L'ELEVATA ENERGIA DEGLI ELETTRONI

PROPAGAZIONE

SLITTAMENTO AL VALORE CRITICO DELLO SFORZO DI TAGLIO MECCANISMO

IN OGNI GRANO CRISTALLINO

SI ATTIVA UNO SCORIMENTO FRAGILE SUPERFICIE DI ROTTURA

QUELLI A MAGGIORE DENSITA' ATOMICA SELEZIONE CAMPIONE COSA OSSERVO?

PIANI DI CLIVAGGIO MICROSTRUTTURA INTERNA

PIANI DI SCORRIMENTO LUNGO PIANI CRISTALLOGRAFICI TAGLIO DIMENSIONI ADATTTE PER SEM 5 X 5 X 5 cm^3

RISPETTO ALLA DIREZIONE DEL CARICO ACETONE

CON ORIENTAZIONE PARTICOLARE RIMUOVERE SEGNI SOLVENTI ALCOL

ASSENZA DEFORMAZIOONI MARCOSCOPICHE DEFORMAZIOONE ESTERNA QUASI NULLA PULIZIA

RESISTENZA A SNERVAMENTO IMMISSIONE IN VASCHETTA AD ULTRASUONI

ROTTURA IMPROVVISA PREAPARAZIONE CAMPIONI PROCEDURA ANALOGA A M.O.

INGLOBATURA, ASSOTTIGLIAMENTO, ATTACCO RISALTARE MICROSTRUTTURA ATTACCO CHIMICO CON DURATA INFERIORE

INFLUENZATA DALLA DIREZIONE DEL CARICO FORMA COALESCENZA DI MIRCOVUOTI DIMPLES

GENERAZIONE MICROVUOTO FRATTURA PARTICELLA 2 MECCANISMI

PARTICELLA CREAZIONE MICROVUOTI

DECOESIONE

MATRICE DUTTILE

IN CORRISPONDENZA DELLE SECNDE FASI

STRIZIONE E DEFORMAZIONE MACROSCOPICA RESISTENZA A ROTTURA

CAMPO PLASTICO CAUSE O MECCANISMI CHE L'HANNO GENERATA

OBIETTIVO CORRELARE TOPOGRAFIA FRATTURA

FRATTOGRAFIA ANALISI MORFOLOGIA SUPERFICIE DI ROTTURA

ESEMPIO

ORDINE DI GRANDEZZA

FOTONI X SI PROPAGANO PIU' IN PROFONDITA' DEGLI ELETTRONI PERCHE' VOLUMI RELATIVI A QUESTO EFFETTO

MOLTO MAGGIORI A QUELLI DI INTERAZIONE DEL FASCIO PRIMARIO EFFETTI LEGATI ALLA FLUORESCENZA SECONDARIA F

E NE APPARE UNO DI UN ALTRO IN PRATICA

SCOMPARE UN FOTONE DI UN ELEMENTO RAGGI X PASSANO NEL BULK DEL MATERIALE

CON ENERGIA INFERIORE A QUELLA PRIMARIA CHE EMETTERANNO UNA RADIAZIONE

POSSONO ECCITARE ATOMI ANGOLO TAKE OFF

CAMBIA LUNGHEZZA PERCORSO FOTONE NELL CAMPIONE

CRITICO COEFFICIENTI CAMPIONE E STANDARD IN GENERE MOLTO DIVERSI

SPESSORE (cm) t EFFETTI LEGATI ALL'ASSORBIMENTO A

DENSITA' (g/cm^3)

DIPENDE DALLA COMPOSIZIONE CHIMICA MEDIA DEL MATERIALE LAMBERT-BEER

COEFFICIENTE ASSORBIMENTO MASSA (cm^2/g) ZAF ANALISI QUANTITATIVA

INTENSITA' FINALE cps

INTENSITA' INIZIALE cps ORBITE K

RICHIAMO STRUTTURA ATOMI

IN MATRICI PESANTI SE DI MOLTO L

Z<1

ANALISI ELEMENTI LEGGERI RAGGRUPPATE IN GUSCI M

IN MATRICI LEGGERE N

Z >1

ANALISI ELEMENTI PESANTII OGNUNO CON ENERGIA SPECIFICA DEFINITA DAL N° QUANTICO PRINCIPALE n

MINORE PROBABILITA' ECCITAZIONE RX EFFETTI LEGATI A Z

TRAIETTORIE ELETTRONI PRIMARI PIU' CORT