Strutture cristalline, indici di Miller e
diffrazione
Appunti introduttivi di scienza e tecnologia dei materiali – riferimento: Smith & Hashemi,
Foundations of Materials Science and Engineering
1. Ordine atomico
Nessun ordine: gli atomi riempiono lo spazio in modo casuale.
• Ordine a corto raggio: disposizione regolare solo rispetto agli atomi vicini →
• materiali amorfi (es. vetri).
Ordine a lungo raggio: la disposizione si ripete periodicamente → materiali
• cristallini (metalli, ceramici).
Un cristallo può diventare amorfo se riscaldato e poi raffreddato molto
• rapidamente.
2. Reticolo e cella unitaria
Un reticolo è un insieme di punti disposti periodicamente, ciascuno con un intorno
identico. La cella unitaria è la più piccola suddivisione che, ripetuta, ricostruisce il
reticolo. Il parametro reticolare a₀ si esprime spesso in ångström (1 Å = 0,1 nm).
3. Contributo degli atomi alla cella
Posizione Celle che la condividono Contributo
Vertice 8 1/8
Centro faccia 2 1/2
Centro spigolo 4 1/4
Centro corpo 1 1
4. Strutture cubiche: parametro reticolare e APF
Struttura Atomi/cell a₀ in funzione di r APF
a
Cubica semplice (CS) 1 a₀ = 2r 0,52
Cubica a corpo centrato 2 a₀ = 4r / √3 0,68
(CCC/BCC)
Cubica a facce centrate 4 a₀ = 4r / √2 0,74
(CFC/FCC)
Esagonale compatta 6 — 0,74
(EC/HCP) ρ = (n · A) / (V · N ) APF = (n · V ) / V
c A atomo c
Esempio svolto. Ferro CCC, r = 0,124 nm, A = 55,85 g/mol. a₀ = 4(0,124)/√3 =
0,2864 nm → V = 2,349 × 10⁻²³ cm³. ρ = (2 × 55,85)/(2,349 × 10⁻²³ × 6,022 ×
c
10²³) ≈ 7,90 g/cm³.
5. Indici di Miller
Direzioni [uvw]: coordinate di arrivo meno coordinate di partenza. Es.: da (0,1,1) a
(1,0,1) → (1,−1,0) = [1 1̄ 0].
Piani (hkl):
Se il piano passa per l'origine, spostare l'origine.
• Trovare le intercette con gli assi (∞ se parallelo).
• Fare i reciproci e, se necessario, eliminare le frazioni.
• Es.: intercette (1; ∞; −½) → reciproci (1; 0; −2) → piano (1 0 2̄).
•
Per la cella esagonale si usano gli indici di Miller-Bravais a 4 assi (hkil).
6. Diffrazione dei raggi X
d = a₀ / √(h² + k² + l²) nλ = 2 d sin θ
hkl hkl
λ = lunghezza d'onda dei raggi X; θ = metà dell'angolo tra fascio diffratto e
• incidente.
Valori ammessi di h² + k² + l²: CS → 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8…; CCC → 2, 4, 6, 8, 10…; CFC